1. 从“工具之MOS正确打开方式”说起为什么你手里的MOS管总在炸“工具之MOS正确打开方式”这个标题第一次看到的时候我愣了一下。MOS这东西说简单也简单三个引脚、一个栅极电压控制沟道通断教科书上两页纸就讲完了说复杂也真复杂我见过太多人照着网上的电路图焊出来上电就冒烟或者波形看着正常但管子烫得能煎鸡蛋。问题出在哪就出在“打开方式”这四个字上。MOS管的全称是金属-氧化物-半导体场效应晶体管英文缩写MOSFET。它在电路里的角色说白了就是一个电压控制型开关栅极给够电压源漏之间就导通栅极电压撤掉源漏之间就关断。听起来跟继电器差不多但它的开关速度可以到纳秒级导通电阻可以低到毫欧级这就是为什么从手机充电器到电瓶车控制器从逆变器到无刷电机驱动到处都有它的身影。但恰恰因为它“看起来简单”很多人把它当成了一个理想开关来用。实际上一颗MOS管身上藏着寄生电容、体二极管、米勒效应、热阻网络这一堆非理想特性。你不把这些东西搞清楚它就会用发热、振荡、甚至炸管来教你做人。这篇内容就是把我这些年调试MOS电路踩过的坑、总结出来的方法从头到尾捋一遍。不管你是刚接触单片机驱动MOS的新手还是已经在做碳化硅逆变器的老手应该都能从中找到对自己有用的东西。2. MOS管工作的底层逻辑三个极到底怎么配合2.1 三个引脚的名字和它们真正的角色先把这个最基础的东西说透。MOS管有三个主要引脚栅极Gate简称G、漏极Drain简称D、源极Source简称S。对于最常见的N沟道增强型MOS管来说栅极是控制端漏极接高电位源极接低电位。当栅源电压Vgs超过阈值电压Vth时栅极下面的半导体表面会形成反型层也就是导电沟道漏源之间开始导通。这里有一个很多人一开始会搞混的点MOS管是电压驱动不是电流驱动。三极管BJT需要基极电流来维持集电极电流而MOS管在稳态下栅极几乎不消耗电流只需要维持电压。这意味着驱动MOS管的功耗理论上可以非常低但也意味着栅极一旦悬空电压不确定管子状态就不确定这是很多莫名其妙的故障的根源。注意栅极悬空是MOS电路的大忌。栅极输入阻抗极高悬空时一点点静电或耦合电荷就能让Vgs超过阈值导致管子误导通。不用的MOS栅极一定要加下拉电阻。2.2 导通条件的本质Vgs到底要多大N沟道MOS管的导通条件是Vgs Vth。但“导通”和“完全导通”是两回事。Vth只是开始形成沟道的门槛这时候沟道很薄导通电阻很大。要让MOS管进入完全导通状态Vgs需要远大于Vth通常取Vth的2到3倍。举个例子一颗常见的IRF540NVth在2V到4V之间但你要让它导通电阻降到标称的44毫欧Vgs需要给到10V。如果你用单片机3.3V的IO口直接驱动它Vgs只有3.3V管子可能勉强导通但导通电阻可能是标称值的几十倍大电流下发热会非常严重。这就是为什么在单片机驱动MOS的场合通常需要加一级驱动芯片或者三极管推挽电路。单片机IO口的作用是给出逻辑信号真正驱动MOS栅极的电压和电流由驱动级提供。2.3 源极为什么接衬底体二极管的由来热词里有一个“mos源极为什么接衬底”这个问题问到了MOS管结构的关键。在典型的MOS管结构中衬底Body和源极是连在一起的这就形成了从源极到漏极的一个寄生二极管叫做体二极管。对于N沟道MOS管体二极管的阳极在源极阴极在漏极。这意味着当漏源电压反向漏极电位低于源极电位时体二极管会导通。这个特性在某些电路里是有用的比如同步整流或者续流但在另一些电路里会带来麻烦比如H桥的死区时间设置不当会导致体二极管导通产生额外损耗。体二极管的存在也解释了为什么MOS管不能简单地当成一个双向开关来用。如果你需要双向阻断要么用两个MOS管背靠背串联要么选择没有体二极管的特殊结构。3. 驱动电路设计从单片机IO到MOS栅极的完整链路3.1 单片机直驱MOS的适用边界很多初学者会问单片机能不能直接驱动MOS管答案是能但有严格的条件。如果你的MOS管是逻辑电平型Logic LevelVth在1V到2V左右并且工作电流不大那么3.3V或5V的IO口直接驱动是可行的。比如常见的AO3400、SI2302这类小功率逻辑电平MOS在单片机IO口驱动下表现很好。但如果你用的是标准MOS管比如IRF系列Vth在3V到4V那单片机直驱就非常勉强了。IO口输出3.3V时Vgs只有3.3V管子工作在饱和区和线性区之间导通电阻大发热严重。这时候你需要一个电平转换或者驱动芯片。我个人的经验是只要电流超过1A或者开关频率超过10kHz就不要考虑单片机直驱老老实实加驱动。驱动芯片的成本远低于你反复炸管的时间和物料成本。3.2 驱动电流的计算方法热词里有“mos驱动电流计算”这个参数直接决定了开关速度。MOS管的栅极可以等效为一个电容Ciss输入电容驱动电流I Qg / t其中Qg是栅极总电荷t是你想要的开关时间。举个例子一颗MOS管的Qg是50nC你希望开关时间是100ns那么驱动电流I 50nC / 100ns 0.5A。这意味着你的驱动芯片需要能提供至少0.5A的峰值电流。如果你用单片机IO口典型驱动电流只有20mA那么开关时间就是50nC / 20mA 2.5微秒慢了25倍。开关速度慢带来的问题是在开关过程中MOS管同时承受电压和电流瞬时功耗很大。开关损耗Psw 0.5 × Vds × Id × (tr tf) × fsw。在频率较高时开关损耗会迅速成为主要损耗来源。3.3 栅极电阻的选择不是随便放一个10欧就行栅极串联电阻Rg的作用是限制栅极充电电流控制开关速度同时抑制栅极振荡。Rg太小开关快但容易振荡Rg太大开关慢但损耗增加。选择Rg的方法是这样的先根据你需要的开关速度确定驱动电流然后Rg Vdrive / Ipeak。比如驱动电压10V想要1A峰值电流Rg就是10欧。但这只是起点实际还要考虑PCB走线电感和MOS管内部栅极电阻。我通常的做法是从10欧开始试用示波器看栅极波形。如果波形有振铃就加大Rg如果开关太慢导致发热就减小Rg。有时候会在Rg上反并联一个二极管实现开通和关断速度的不对称控制——开通慢一点抑制EMI关断快一点减少关断损耗。3.4 米勒效应栅极波形上那个平台是怎么回事热词里有“mos管米勒效应原理”这是MOS驱动中一个非常重要的现象。在MOS管开通时栅极电压上升过程中会出现一个平台在这个平台上栅极电压几乎不变但漏极电压在快速下降。这个平台就是米勒平台。米勒效应的本质是栅漏电容Cgd在漏极电压变化时产生的位移电流。在漏极电压下降期间Cgd上的电压变化会吸收驱动电流导致栅极电压停滞。米勒平台期间MOS管同时承受高电压和大电流是开关损耗的主要来源。要减小米勒效应的影响可以选择Cgd小的MOS管或者用更大的驱动电流快速冲过米勒平台。这也是为什么在高频应用里驱动芯片的峰值电流往往选得很大就是为了缩短米勒平台时间。4. 开关电路实操从原理图到PCB的完整流程4.1 低边开关和高边开关的区别MOS管开关电路分两种基本拓扑低边开关和高边开关。低边开关是MOS管接在负载和地之间源极接地栅极由控制信号驱动。这种拓扑简单驱动容易因为源极电位固定Vgs容易控制。高边开关是MOS管接在电源和负载之间源极接负载漏极接电源。这种拓扑的难点在于源极电位随负载变化Vgs的参考点不固定。要驱动高边N沟道MOS需要自举电路或者隔离电源让栅极电压高于源极电压。对于大多数单片机应用低边开关是首选。只有在需要负载一端接地或者需要电源侧开关的场合才用高边开关。高边开关如果一定要用N沟道MOS自举电容和自举二极管的选择很关键电容容量要足够大二极管反向恢复要快。4.2 续流二极管和吸收电路驱动感性负载时MOS管关断瞬间电感会产生反向电动势如果没有续流路径这个高压会击穿MOS管。所以感性负载两端必须并联续流二极管。对于低边开关续流二极管并联在负载两端阴极接电源正极阳极接MOS管漏极。当MOS管关断时电感电流通过续流二极管继续流动MOS管漏极电压被钳位在电源电压加二极管正向压降。热词里有“逆变器碳化硅mos吸收电路设计”碳化硅MOS的开关速度极快dv/dt很高PCB寄生电感会产生严重的电压尖峰。这时候需要加RC吸收电路或者RCD钳位电路。RC吸收的电阻和电容值需要根据寄生电感和电流变化率来计算通常先用示波器测量尖峰频率然后按f 1/(2πRC)来初步选取。4.3 PCB布局的几条铁律MOS管电路的PCB布局直接决定了电路能不能稳定工作。我总结了几条铁律第一驱动回路面积要尽可能小。驱动芯片到MOS栅极的走线要短而粗返回路径要直接连到源极。驱动回路的寄生电感会导致栅极振荡。第二功率回路面积要尽可能小。从电源正极到MOS漏极再到源极再回到电源负极这个回路的面积要最小化。功率回路的寄生电感会在开关瞬间产生电压尖峰。第三栅极电阻要靠近MOS管放置。如果Rg离MOS管太远走线电感会和栅极电容形成LC振荡。第四源极的电流采样电阻要用开尔文接法。热词里有“mos管结构图和开尔文接法”开尔文接法就是把电流采样点和电压参考点分开走线避免大电流走线上的压降影响采样精度。4.4 热设计MOS损耗测试和热损计算热词里有“mos损耗测试”和“mos热损计算”这是实际工程中必须做的。MOS管的损耗分三部分导通损耗、开关损耗、驱动损耗。导通损耗Pcond I² × Rds(on) × D其中D是占空比。Rds(on)会随结温升高而增大通常数据手册会给出25°C和125°C两个值计算时要按最高结温来算。开关损耗Psw 0.5 × Vds × Id × (tr tf) × fsw。tr和tf可以从数据手册读取或者用示波器实测。驱动损耗Pdrive Qg × Vgs × fsw。这部分通常较小但在高频时不能忽略。总损耗Ptotal Pcond Psw Pdrive。然后根据热阻Rθja计算结温Tj Ta Ptotal × Rθja。如果Tj超过150°C就需要加散热片或者换更低Rds(on)的管子。我实测的经验是计算出来的损耗往往比实际偏小因为还有体二极管反向恢复损耗、寄生电容充放电损耗等。所以设计时至少留30%的余量。5. 进阶应用从RS485自收发到恒流源5.1 MOS搭建的RS485自收发电路热词里有一个很有意思的问题“mos搭建的硬件rs485自收发电路 波特率230400是否有问题”。RS485是差分总线通常用专用收发器芯片但在一些低成本方案里可以用MOS管搭建自动方向控制电路。基本原理是利用发送数据的下降沿触发一个单稳态电路产生一个延时信号来控制收发器的方向引脚。这个延时必须略大于一个字节的传输时间确保最后一个字节发送完毕后再切回接收。在230400波特率下一个字节10位的传输时间是10/230400 ≈ 43.4微秒。你的延时电路必须保证在43.4微秒内保持发送方向然后切回接收。如果延时不够最后一个字节会被截断如果延时太长会错过对方的响应。用MOS管搭建这个延时电路关键是RC时间常数的稳定性。电阻和电容的温漂会影响延时精度在温度变化大的环境里可能不可靠。我的建议是如果波特率超过115200还是用专用收发器芯片更稳妥。5.2 运放加MOS管的恒流源热词里有“运放加mos管的恒流源”这是一个非常经典的电路。运放的同相输入端接参考电压反相输入端接采样电阻上的电压运放输出驱动MOS栅极形成负反馈。当电流增大时采样电阻上的电压升高运放反相输入端电压升高运放输出电压降低MOS管导通程度减小电流回落。最终电流稳定在I Vref / Rsense。这个电路的关键是运放的选择。运放需要有足够的带宽和压摆率来驱动MOS栅极电容同时输入失调电压要小否则电流精度差。另外MOS管的跨导和运放的增益共同决定了环路的稳定性必要时需要在运放输出和MOS栅极之间加RC补偿。5.3 电平转换电路中的MOS应用热词里有“mos管电平转换电路”这是MOS管的一个巧妙用法。用一个N沟道MOS管栅极接低电压电源源极接低电压侧信号漏极接高电压侧信号就可以实现双向电平转换。当低电压侧输出高电平时MOS管体二极管先导通然后栅极电压让沟道导通高电压侧被拉低。当低电压侧输出低电平时MOS管关断高电压侧被上拉电阻拉高。这个电路的关键是MOS管的Vth要低于低电压侧的电源电压否则管子无法导通。另外上拉电阻的值会影响上升沿速度需要根据总线电容和通信速率来选取。6. 常见问题与排查技巧实录6.1 MOS管发热严重怎么排查MOS管发热是最常见的问题。排查思路按以下顺序进行排查项可能原因解决方法驱动电压Vgs不足管子未完全导通提高驱动电压或换逻辑电平MOS开关频率开关损耗过大降低频率或加快开关速度散热条件热阻过大加散热片或改善PCB铜箔面积负载电流超过额定值换更大电流等级的MOS体二极管反向恢复损耗检查死区时间或换同步整流方案我遇到过一个案例一颗MOS管在10kHz下工作正常提到50kHz就烫得不行。用示波器看栅极波形发现米勒平台占了整个周期的很大比例。换了一颗Qg更小的管子问题解决。6.2 栅极振荡怎么处理栅极振荡表现为栅极波形上有高频振铃严重时会导致MOS管误导通。处理方法第一加大栅极电阻Rg。这是最简单的办法但会减慢开关速度。第二缩短驱动走线减小驱动回路电感。第三在栅极和源极之间并联一个小电容比如1nF吸收高频振荡。第四检查驱动芯片的地线是否和功率地分开走最后单点连接。6.3 死区时间怎么选热词里有“知乎mos死区时间的选择”这是H桥和同步整流电路的关键参数。死区时间太短上下管直通炸管死区时间太长体二极管导通时间增加损耗增大。死区时间的经验值是对于普通硅MOS取100ns到500ns对于碳化硅MOS取50ns到200ns。具体值要用示波器看上下管的栅极波形确保一个管子完全关断后另一个才开通。我通常会在死区时间上留一定余量因为MOS管的关断时间会随温度变化。在低温下关断快高温下关断慢死区时间要按最高工作温度来设计。6.4 寄生电容的影响怎么量化热词里有“mos管的寄生电容”主要关注三个Ciss输入电容、Coss输出电容、Crss反向传输电容即米勒电容。Ciss影响驱动电流需求Coss影响开关损耗和振荡Crss影响米勒平台。数据手册里都会给出这些参数选型时要根据应用频率和驱动能力来权衡。高频应用选Ciss和Crss小的管子大电流应用选Coss小、Rds(on)小的管子。没有一颗管子是万能的关键是匹配你的应用需求。7. 仿真与选型LTspice和驱动芯片7.1 在LTspice中创建自定义MOS模型热词里有“ltspice自己创建mos参数”LTspice自带的MOS模型有限很多时候需要自己导入厂商的SPICE模型。方法是从厂商官网下载.lib或.mod文件然后在LTspice里用.include指令引用。如果找不到现成模型也可以根据数据手册手动创建简化模型。关键参数包括Vth、Kp跨导参数、Rds(on)、Ciss、Coss、Crss。手动创建的模型精度有限但对于初步验证电路拓扑和驱动方案已经够用。我通常的做法是先用简化模型跑通电路逻辑确认驱动电压和死区时间设置合理然后再用厂商的精确模型做损耗和热分析。7.2 驱动芯片选型一览热词里有“mos管驱动芯片一览表”这里按应用场景分类整理应用场景推荐驱动类型关键参数低边开关单通道低边驱动峰值电流1-4A高边开关高边驱动或自举驱动耐压需高于电源半桥/全桥半桥驱动芯片死区时间可调三相无刷电机三相栅极驱动集成死区与保护隔离电源隔离栅极驱动隔离电压2.5kV选型时重点看峰值驱动电流、耐压、传播延迟、死区时间是否可调、有没有欠压锁定和保护功能。德州仪器、英飞凌、意法半导体都有完整的驱动芯片产品线根据你的电压和电流等级选择即可。7.3 无刷电机控制中的MOS驱动热词里有“集成mos驱动的无刷电机控制mcu”这是当前的一个趋势。传统方案是MCU加独立栅极驱动加六个MOS管现在很多厂商把栅极驱动甚至MOS管集成到MCU里简化了设计。集成方案的优点是体积小、外围元件少、EMC性能好。缺点是灵活性差MOS管的导通电阻和散热能力受封装限制大功率场合还是得用分立方案。我的建议是小功率100W以下用集成方案开发快、可靠性高中大功率用分立方案散热和电流能力更好控制。8. 一些零散但重要的经验关于MOS管的开启电压温度系数Vth是负温度系数温度升高时Vth降低。这意味着高温下MOS管更容易导通但也更容易误导通。在高温环境里栅极下拉电阻不能省。关于并联使用多颗MOS管并联可以降低导通电阻但要注意均流。栅极要各自串联电阻源极要走对称布局否则可能一颗管子承担大部分电流。关于静电防护MOS管栅极氧化层很薄静电击穿是不可逆的。拿管子之前先放电焊接时烙铁要接地不用的管子短接三个引脚存放。关于体二极管的反向恢复在桥式电路里体二极管的反向恢复时间会影响死区时间和EMI。如果体二极管反向恢复慢可以考虑并联肖特基二极管来分流。关于碳化硅MOS的使用碳化硅MOS的Vth较低栅极耐压范围窄驱动电压通常推荐18V到20V关断时建议加负压防止误导通。碳化硅的体二极管反向恢复几乎可以忽略但Coss较大关断时容易振荡需要仔细设计吸收电路。关于热阻和散热片数据手册里的Rθja是在特定PCB条件下的值实际PCB的铜箔面积、层数、过孔数量都会影响散热。大功率应用一定要实测结温可以用热成像仪或者测量壳温后反推。关于栅极电阻的功率栅极电阻在开关瞬间要承受脉冲功率虽然平均功率不大但峰值功率可能很高。建议用0805或1206封装的电阻不要用0402。关于驱动芯片的供电驱动芯片的供电电压直接影响MOS管的导通电阻和开关速度。供电电压越高导通电阻越小但开关损耗可能增大。需要在导通损耗和开关损耗之间找平衡点。关于PCB上的电流采样低边开关的电流采样电阻放在源极和地之间运放要采用差分输入并且走线要开尔文连接。采样电阻的感抗会影响高频电流的测量精度建议用低感抗的采样电阻。关于MOS管的降额使用电压降额到80%电流降额到50%功率降额到40%这是工程上的常规做法。降额使用可以显著提高可靠性尤其是在温度变化大的环境里。关于仿真和实测的差距仿真模型通常不包含PCB寄生参数所以仿真结果往往比实测乐观。仿真通过只是第一步实测才是最终验证。我习惯在仿真时把驱动电阻加大20%把寄生电感估算进去这样仿真结果更接近实际。关于MOS管的失效模式最常见的失效是栅极击穿和热击穿。栅极击穿通常是驱动电压超过额定值或者静电导致热击穿是结温超过极限导致。还有一种失效是体二极管反向恢复导致的开通失败在桥式电路里比较常见。关于选型的优先级先确定电压和电流等级再确定导通电阻和栅极电荷然后确定封装和散热方式最后确定驱动方案。不要反过来先选驱动再选管子那样会被驱动能力限制住。关于测试时的安全调试MOS电路时建议用可调电源并设置电流限制。第一次上电时电压从低往高调同时用手背轻触MOS管感受温度注意安全不要直接摸带电部分。如果发现异常发热立即断电检查。关于示波器测量测量栅极波形要用高带宽探头普通探头会引入额外电容影响波形。测量漏极电压要用高压差分探头普通探头的地线夹在漏极上会短路。测量电流可以用电流探头或者采样电阻加差分探头。关于MOS管的并联均流并联MOS管时栅极电阻要独立源极走线要对称最好在每颗管子的源极串联一个小电阻比如0.1欧来强制均流。但这样会增加损耗所以只在大电流场合使用。关于驱动芯片的自举电容高边驱动用自举电容时电容容量要足够大通常取100nF到1uF。电容太小会导致高边驱动电压下降MOS管导通不充分。自举二极管要用快恢复二极管反向恢复时间要短。关于死区时间的测量用双通道示波器同时看上下管的栅极波形测量一个管子关断到另一个管子开通之间的时间。注意探头要校准两个通道的延迟要一致。关于MOS管的开关频率上限开关频率受限于开关损耗和驱动能力。一般来说硅MOS在100kHz以下比较从容碳化硅MOS可以到500kHz以上。超过这个范围开关损耗会急剧增加需要更复杂的软开关技术。关于体二极管的利用在某些电路里体二极管可以当作续流二极管用省掉外置二极管。但体二极管的反向恢复特性通常不如专用二极管高频场合还是外置肖特基更好。关于栅极保护栅极和源极之间可以并联一个TVS管或者稳压二极管防止栅极电压超过额定值。尤其是在长线驱动或者感性负载场合栅极电压尖峰可能很高。关于MOS管的存储MOS管要存放在防静电袋里引脚之间用导电泡沫短接。拿取时先接触接地金属再拿管子。焊接时烙铁头要接地或者用焊台断电后利用余热焊接。关于MOS管的替换替换MOS管时不能只看电压电流还要看Vth、Qg、Coss、Rds(on)等参数。Vth不同可能导致驱动电路不匹配Qg不同可能导致开关速度变化Coss不同可能导致振荡。关于热设计的验证计算完损耗和结温后一定要实测验证。可以在MOS管背面贴热电偶或者用红外热像仪测量。如果实测结温超过计算值说明还有未考虑的损耗来源。关于驱动电阻的调整驱动电阻的最终值要在实测中确定。先用计算值然后看波形调整。如果开通太快导致EMI超标加大开通电阻如果关断太慢导致发热减小关断电阻。有时候开通和关断用不同的电阻值。关于MOS管的降噪在MOS管漏极和源极之间并联一个RC吸收电路可以吸收开关瞬间的高频振荡。RC的值根据振荡频率来选通常R取几欧到几十欧C取几百皮法到几纳法。关于MOS管的电流能力数据手册里的连续漏极电流是在特定壳温下测的实际使用中受散热条件限制。不要只看电流值要看Rds(on)和热阻自己算实际能承受的电流。关于MOS管的电压尖峰关断感性负载时漏极电压会冲到电源电压以上。如果尖峰超过MOS管耐压就会雪崩击穿。可以用TVS管钳位或者加RC吸收或者换更高耐压的管子。关于MOS管的驱动损耗驱动损耗虽然通常不大但在高频下会累积。如果驱动电压是10VQg是50nC频率是100kHz驱动损耗就是50mW。这个功耗在驱动芯片内部要注意驱动芯片的散热。关于MOS管的并联驱动多颗MOS管并联时可以用一个驱动芯片驱动多路栅极但每路要独立串联栅极电阻。驱动芯片的峰值电流要足够大能同时驱动所有栅极电容。关于MOS管的测试记录调试MOS电路时建议记录每次修改的参数和对应的波形。这样在出问题时可以回溯找到是哪个改动导致了异常。我习惯用表格记录日期、修改内容、波形变化、温度变化。关于MOS管的失效分析如果MOS管炸了不要直接扔掉。用万用表测量三个引脚之间的电阻判断是栅极击穿还是沟道击穿。栅极击穿通常是栅源或栅漏短路沟道击穿通常是漏源短路。根据失效模式反推原因。关于MOS管的选型工具很多厂商提供在线选型工具输入电压、电流、频率等参数自动推荐合适的型号。但工具推荐的型号不一定是最优的还要结合成本和供货情况。关于MOS管的国产替代近几年国产MOS管进步很快在很多应用里可以替代进口型号。但要注意参数一致性和可靠性验证尤其是高压大电流场合。关于MOS管的未来趋势碳化硅和氮化镓MOS管正在普及开关频率和效率都在提升。但驱动电路的要求也更高需要更快的驱动芯片和更仔细的PCB布局。关于MOS管的仿真模型LTspice的MOS模型分Level 1、Level 2、Level 3等精度依次提高。对于开关电路Level 1模型通常够用。如果需要精确的损耗分析要用厂商提供的精确模型。关于MOS管的栅极电荷Qg是选驱动芯片的关键参数。驱动芯片的峰值电流要大于Qg除以你想要的开关时间。如果驱动芯片电流不够开关时间会变长损耗增加。关于MOS管的输出电容Coss在关断时储存能量开通时释放。这个能量消耗在MOS管内部是开关损耗的一部分。高频应用要选Coss小的管子。关于MOS管的反向传输电容Crss就是米勒电容它决定了米勒平台的长度。Crss越小米勒平台越短开关损耗越小。但Crss太小可能导致振荡。关于MOS管的导通电阻Rds(on)是导通损耗的直接来源。Rds(on)越小导通损耗越小但通常Qg越大开关损耗越大。需要在两者之间权衡。关于MOS管的阈值电压Vth是导通的门槛但Vth有温度系数和离散性。设计时要按最低Vth来确保关断按最高Vth来确保导通。关于MOS管的封装封装决定了热阻和电流能力。TO-220适合大功率SOT-23适合小功率DFN适合高密度贴装。选封装时要考虑散热和空间。关于MOS管的驱动电压驱动电压越高Rds(on)越小但栅极氧化层承受的电场越强。通常驱动电压取10V到15V碳化硅取18V到20V。关于MOS管的开关速度开关速度受驱动电流和寄生电容限制。提高驱动电流可以加快开关但会增加EMI。需要在速度和EMI之间找平衡。关于MOS管的死区时间死区时间是为了防止上下管直通。死区时间太短会直通太长会降低效率。死区时间要按最高工作温度来设计。关于MOS管的吸收电路吸收电路是为了抑制电压尖峰和振荡。RC吸收是最简单的但会增加损耗。RCD钳位损耗小但成本高。关于MOS管的并联并联可以降低导通电阻但要注意均流。栅极独立电阻、源极对称布局、源极串联小电阻都是均流的手段。关于MOS管的驱动芯片驱动芯片分低边、高边、半桥、三相。选型时看峰值电流、耐压、传播延迟、死区时间、保护功能。关于MOS管的测试测试MOS电路要用可调电源、示波器、电流探头、热像仪。测试时要记录波形和温度便于分析和改进。关于MOS管的故障最常见的故障是发热、振荡、炸管。排查时先看驱动波形再看漏极波形最后看温度。逐步缩小问题范围。关于MOS管的经验MOS管不是理想开关它有寄生参数和非理想特性。理解这些特性才能正确使用它。多动手、多测量、多记录经验自然就积累起来了。