从一枚MPO连接器的Pin孔位置度到一块光模块PCB内部焊点的隐裂从消费电子薄壁件的低测力扫描到整个液冷板的全域色差比对——精密光学与电子制造的每一次良率跃升都藏在更细微的几何与缺陷之中。2026第27届中国国际光电博览会CIOE蔡司工业质量解决方案邀您共赴一场“光测量”的深度协同展会速览2026第27届中国国际光电博览会CIOE展会地点深圳国际会展中心宝安 3号馆展会时间2026年9月9日至11日蔡司展位3B53蔡司全系列解决方案MPO连接器全尺寸量测解决方案多测头复合效率提升MPO连接器广泛应用于高速光模块Pin孔位置度、导芯孔尺寸、端面几何参数——图纸全尺寸如何快速、高精度地完成ZEISS O-INSPECT 5/4/3 复合式影像测量机集成接触式、影像与白光共聚焦测头支持ZVP快速触测及快速影像测量搭配转台实现各种角度自由旋转传统测量模式时间缩短高精度标准机质量管控有据可循消费电子结构件量产阶段质量解决方案低测力批量矩阵测量效率跃升注塑件、薄壁件易变形测针常无法触及理论位置批量多件测量如何兼顾效率与精度ZEISS 三坐标测量机搭载低测力模块柔软易变形工件也能精准扫描结合定制化工装及软件AutoRun功能矩阵式批量测量测量效率提升高精度扫描代替打点真实反映加工状态光模块PCBA外观检测解决方案从宏观到微观缺陷一览无余芯片表面焊脚缺陷、电子元件高度或划痕深度——常规显微镜难以快速完成全检。ZEISS Smartzoom 5 数码显微镜大景深3D成像倾斜观察样品侧面缺陷导航相机轻松掌握分析区域电容高度测量一键生成报告让表面缺陷无所遁形光模块及高速连接器无损检测方案工业CT穿透成像装配缺陷一机覆盖不锈钢外壳内部包含PCB-A及低密度导热垫片传统方法无法无损获取内部装配状态与缺陷。ZEISS METROTOM CT 测量系统VHDMerge技术提供高衬度高清图像可同时分析低密度垫片中的气孔及内部尺寸全范围可追溯精度满足GB及VDI/VDE标准PCB板快速全域扫描测量方案全域三维数据反哺工艺稳定量产阶段如何快速了解产品与设计要求的偏差如何连续监控生产工艺是否稳定ZEISS ATOS Q 光学测量系统易编程、高速全域三维数据捕获数模比对色差图直观显示整体偏差参数化检测支持SPC趋势分析大幅缩减测量时间让工艺有据可循9月我们相约深圳在光博会的展台上蔡司邀您一同探寻——那些连接器之内、结构件之上的精密边界